導線がRFエネルギーを吸収することによって生じる電流が、電極から生体に放出され、電極周辺組織の発熱が起こるおそれがあります。電極周辺組織の発熱は、不可逆的な組織損傷や神経損傷、さらには恒久的な脊髄損傷につながるおそれがあるため¹、深刻度の高いリスクと考えられています。脊髄では、有害な温度が熱として認知されない場合があるため、MRI撮像中に電極周辺組織の発熱が起こっても、患者さまは医師に異変を伝えることができない可能性があります。

体内に植込まれる機器が磁性体を多く含む場合、静磁場に引き寄せられ、体内で移動するおそれがあります。また、神経刺激装置内の電子回路が破損するおそれもあります。神経刺激装置やリードの移動、電子回路の破損が起こると、交換手術につながるリスクがあります。

RFエネルギーの吸収および傾斜磁場への曝露によって神経刺激システムに誘導電流が発生し、それが神経刺激装置内の電子回路に流入することで、電子回路が破損するおそれがあります。電子回路の破損により、テレメトリ不全やリチャージ不全、又は意図しないプログラミングの変更が起こり、再プログラミング又は神経刺激装置の抜去が必要となるリスクがあります²。

RFエネルギーの吸収及び傾斜磁場への曝露によって発生した誘導電流は、神経刺激装置やリードを介して体内に流れ、意図しない刺激を生じさせるおそれがあります^2,3。